TY - JOUR T1 - Impact ionization coefficients in 4H-SiC JO - IEEE T ELECTRON DEV PY - 2008/08/01 AU - Loh WS AU - Ng BK AU - Ng JS AU - Soloviev SI AU - Cha HY AU - Sandvik PM AU - Johnson CM AU - David JPR ED - DO - DOI: 10.1109/TED.2008.926679 VL - 55 IS - 8 SP - 1984 EP - 1990 Y2 - 2025/07/12 ER -