TY - CONF
T1 - Experimental study of the impact of so phonon scattering in high-魏 gate dielectric MOSFETs
JO - ECS Transactions
PY - 2006/01/01
AU - Atarah SA
AU - De Souza MM
AU - Peterson J
AU - Bersuker G
AU - Brown G
AU - Young C
ED -
DO - DOI: 10.1149/1.2355698
VL - 3
IS - 3
SP - 49
EP - 56
Y2 - 2025/05/21
ER -